Электромагнетизм; волновая оптика; квантовая оптика, физика атомного ядра

Условие: Рассмотрим схему интерференции света в тонкой пленке при нормальном падении. Допустим, что на пленку воздействует сильное электромагнитное поле, которое способно уменьшить длину волны проходящего через пленку света на 10%. Определите, как изменится интерференционная картина. Постройте расчеты для конкретных значений толщины пленки и длины волны. Опишите возможные применения данной технологии в оптико-электронных устройствах.
________________________________________
Шаги решения
1. Интерференция в тонкой пленке: Интерференция в тонкой пленке возникает за счет разности фаз световых волн, которые отражаются от верхней и нижней поверхностей пленки. Из-за различия в пути, пройденном волнами, они складываются, создавая либо максимумы (усиление), либо минимумы (гашение) в зависимости от длины волны, толщины пленки и показателя преломления.
2. Условие максимума интерференции: Для наблюдения максимума интерференции в тонкой пленке должно выполняться условие:
2nt=mλ
где:
o n — показатель преломления пленки,
o t — толщина пленки,
o m — порядок интерференции (целое число, указывающее на номер максимума),
o λ — длина волны света в пленке.

3. Изменение длины волны: Исходная длина волны света составляет λ0=600нм. При воздействии внешнего электромагнитного поля длина волны уменьшается на 10%, что означает, что новая длина волны будет:
λ = λ0 × 0.9 = 600 × 0.9 = 540 нм
Таким образом, внешнее поле изменяет длину волны света, и это приведет к изменению интерференционной картины.
4. Вычисление новых позиций максимумов и минимумов: Для упрощения примера предположим, что показатель преломления пленки n=1.5, а толщина пленки t=300 нм.
Подставим уменьшенное значение длины волны λ = 540 нм и проведем расчеты для определения условий появления интерференционных максимумов при разном порядке m.
5. Рассчитаем порядок интерференции для максимума: Исходное условие максимума при длине волны λ0=600нм:

Это условие не является целым числом, значит, максимум наблюдаться не будет. Для целого значения m с учетом нового значения длины волны будем подставлять несколько значений.
6. Построение графика интерференционной картины: Построим график зависимости интенсивности от толщины пленки для длины волны до и после воздействия электромагнитного поля, чтобы наглядно увидеть изменения интерференционной картины.